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Microscopio con sonda a scansione D3100AFM Digital Instruments
Anno
-
Luogo
USA
Prezzo a richiesta
2
Microscopio con sonda a scansione D3100AFM Digital Instruments
Anno:
-
Luogo:
USA
Dimensione 3100 AFM Area di imaging X-Y ca. 90um quadrati Portata Z ca. 6um dimensioni del campione fino a 150 mm controller del nanoscopio IIIa …
Prezzo a richiesta
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